تصميم لوحة اختبار مصدر الكريستال الأصلي IC

 

إن تصميم لوحة اختبار مصدر الكريستال الأصلي لـ IC عبارة عن نظام أساسي لاختبار الأداء الوظيفي لثنائي الفينيل متعدد الكلور (PCB) عالي الدقة يستخدم لتوليد الإشارات البلورية، والتحقق من التردد، واختبار مصدر ساعة IC. إنه مصمم بشكل أساسي لتقييم استقرار ودقة تردد المذبذبات البلورية تحت ظروف الحمل والجهد ودرجة الحرارة المختلفة.

تدمج لوحة الاختبار عادةً دوائر المذبذب البلوري، وشبكات مكثفات الحمل، ودوائر المخزن المؤقت/مضخم الصوت، وواجهات قياس الإشارة، ووحدات المعلمات القابلة للتعديل. فهو يوفر بيئة اختبار موحدة للبحث والتطوير في IC، واختيار الكريستال، والتحقق من صحة ساعة النظام.

يُستخدم تصميم لوحة اختبار المصدر الكريستالي الأصلي لـ IC على نطاق واسع في تطوير الرقائق وأنظمة الاتصالات والأنظمة المدمجة ووحدات التردد اللاسلكي وتصميم نظام الساعة -عالي الدقة، مما يجعله أداة هندسية أساسية في مرحلة التحقق من التصميم الإلكتروني.

 

 

 

غرض	مواصفة
نوع الركيزة	FR4 / مواد عالية التردد- (اختياري)
نطاق تردد التشغيل	32.768 كيلو هرتز – 200 ميجا هرتز (قابلة للتوسيع)
نطاق سعة التحميل	1 بيكو فاراد – 50 بيكو فاراد (قابل للتعديل)
نوع إخراج الإشارة	CMOS / LVDS / موجة جيبية
جهد إمداد الطاقة	1.8V / 2.5V / 3.3V / 5V
واجهات الاختبار	SMA / رأس الدبوس / اللوحة-إلى-اللوحة
ضوضاء المرحلة	-120 ديسيبل سي / هرتز @ 10 كيلو هرتز (نموذجي)
درجة حرارة التشغيل	-40 درجة ~ 85 درجة
التحكم في المعاوقة	50Ω / قابل للتخصيص

 

 

غرض	لوحة اختبار مصدر كريستال IC	الاختبار المنفصل التقليدي
دقة الاختبار	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐⭐
استقرار الإشارة	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐⭐
كفاءة الاختبار	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐
التكرار	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐
تكامل النظام	⭐⭐⭐⭐⭐	⭐⭐
مرونة التصحيح	⭐⭐⭐⭐	⭐⭐⭐
دعم الأتمتة	⭐⭐⭐⭐	⭐⭐

 

الوسم : تصميم لوحة اختبار مصدر الكريستال الأصلي IC، الصين مصنعي لوحة اختبار مصدر الكريستال الأصلي IC والموردين والمصنع, تصميم لوحة اختبار مصدر البلورة الأصلي للدوائر المتكاملة, تصميم منتجات الاتصالات المتنقلة, تصميم لوحة الدوائر المطبوعة لمزود الطاقة, خدمات تطوير تصميم النماذج الأولية, خدمات تصميم وتطوير النماذج, مجموعة أجهزة ذكية